Gesellschaft für Informatik e.V.

Lecture Notes in Informatics


Software Engineering 2012 P-198, 143-154 (2012).

Gesellschaft für Informatik, Bonn
2012


Copyright © Gesellschaft für Informatik, Bonn

Contents

Reduktion von Testsuiten für Software-Produktlinien

Harald Cichos , Malte Lochau , Sebastian Oster and Andy Schürr

Abstract


Eine Software-Produktlinie (SPL) bezeichnet eine Menge ähnlicher Produktvarianten, die bei entsprechend großer Anzahl einen erheblichen Testaufwand verursachen können. Viele modellbasierte SPL-Testansätze versuchen diesen Testaufwand zu verringern, indem Testfälle und Testmodelle aus vorangegangenen Testprozessen ähnlicher Produkte, wenn möglich, wiederverwendet werden. Eine weitere Möglichkeit den Testaufwand zu senken besteht darin, die Anzahl der auf den einzelnen Produkten auszuführenden Testfälle (Testsuite) mittels Testsuite-Reduktionstechniken zu reduzieren. Bisher existierende Verfahren wurden jedoch nicht für den Einsatz im SPL-Kontext entworfen und können daher nicht für jedes Produkt den Erhalt der erreichten Testabdeckung bzgl. eines Überdeckungskriteriums garantieren, wenn Testfälle produktübergreifend wiederverwendet werden. In dieser Arbeit wird diese aus der allgemeinen Testsuite-Reduktion bekannte Anforderung erstmals in erweiterter Form auf den SPL-Kontext übertragen. Darauf aufbauend werden zwei für SPLs ausgelegte Testsuite-Reduktionsansätze vorgestellt, die trotz Reduktion die erreichte Testabdeckung auf jedem Produkt beibehalten. Die Implementierung dieser Ansätze wird auf ein Anwendungsbeispiel angewendet und die Ergebnisse diskutiert.


Full Text: PDF

Gesellschaft für Informatik, Bonn
ISBN 978-3-88579-292-5


Last changed 04.10.2013 18:37:58